Lõuna-Korea tehnoloogiahiid Samsung teatas tänasel pressikonverentsil, et Galaxy Note7 telefonide akude ülekuumenemine ja plahvatamine oli tingitud kahest defektist.
Samsung: Note 7-d plahvatasid kahe defekti tõttu
Samsungi ning sõltumatute ekspertorganisatsioonide UL, Exponent ja TUV Rheinland läbi viidud uurimine näitas, et telefonide esimese tagasi kutsumise põhjuseks olid vigased akud, mille Jelly-Rolli ülemises paremas nurgas olnud defekt põhjustas elektroodi paindumise. See omakorda nõrgestas elektroode eraldavat separaatorit, luues omakorda mitu võimalust lühiseks.
Telefonide teise tagasikutsumise põhjustasid akud, mille negatiivselt elektroodilt leiti sulanud vaske, mis tähendab toimunud lühist.
Note7 probleemide tuvastamiseks käivitatud uurimine hõlmas nii riistvara kui ka tarkvara testimist, samuti seadmete kokkupaneku, erinevate tootmisprotsesside ja -etappide ning logistika uurimist.
Analüüside läbi viimise jaoks ehitas Samsung eraldi uurimiskeskuse, kus ligikaudu 700 Samsungi teadlast ja inseneri kutsusid intsidenti taas esile, testides enam kui 200 000 täielikult kokkupandud seadet ning rohkem kui 30 000 akut.
Lõuna-Korea pealinnas Seoulis toimunud pressikonverentsil teatas Samsung, et võtab endale vastutuse ebaõnnestumises täielikult tuvastada akude disainist ja tootmisest tulenevaid probleeme enne Note7 lansseerimist.
Et tulevikus oleks akude müügieelne kontroll veelgi tõhusam, käivitas Samsung 8 punktist koosneva akude ohutuse kontrolliprogrammi, mis hõlmab ohutus- ja kvaliteedikontrolli kõikides tootmistegevustes alates osade ladustamisest kuni tootmise ja täielikult kokkupandud seadmete transpordini
«See juhtum on nii meile kui kogu tööstusele motivaator parandada liitiumioonakude ohutust ning me jagame oma kogemusi kõigiga, et kaasa aidata akude veelgi ohutumaks muutmisele,» ütles Samsung Electronics Baltics'i mobiilsete seademete juht Maris Kikans pressikonevrentsi järel oma arvamuse.