Päevatoimetaja:
Kaido Einama

Eesti professor: Samsungi äparduse taga on tootjate võidujooks (1)

Juhime tähelepanu, et artikkel on rohkem kui viis aastat vana ning kuulub meie arhiivi. Ajakirjandusväljaanne ei uuenda arhiivide sisu, seega võib olla vajalik tutvuda ka uuemate allikatega.
Copy
Professor Enn Lust
Professor Enn Lust Foto: Sille Annuk / Tartu Postimees

Tuntud ja tunnustatud Eesti keemiateadlane ning professor Enn Lust peab Samsungi tipptelefoni Galaxy Note 7 praagiks tunnistamise põhjuseks tootjate võidujooksust tingitud kompleksset möödapanekut.

«Selle telefoni aku ise ilma väga tihedalt kokku pakitud telefonita ei tarvitsegi üle kuumeneda ja plahvatada. Probleem on aga selles, et patarei laadimise ja töötamise ajal tekib palju soojust ning kuna seda ümbritsevad väga tihedalt kergesti süttivad materjalid, siis kuumenemise esimeseks tagajärjeks on plahvatus ja seejärel platsmassi ja muu põleng,» selgitas Eesti teadlane Galaxy Note 7 süttimise põhjusi.

«Telefoni ühendamine muu telefoniga on osutunud ebaõnnestunuks. Nagu väga paljude kõrge võimsusega elektrokeemiliste vooluallikate pakkimise puhul väga piiratud ruumi juhtuda võib,» tõdes professor.

Mis puutub täpsemalt telefoni uudse aku ehitusse, siis on Samsung ehitanud Lusti sõnul anoodi ja katoodi vahele väga õhukese separaatori, et saavutada väga hea ruumalaline võimsuse ja energia tihedus ning see, et aku pikalt telefoni toidaks.

Õhukese ja kompaktse separaatoriga kaasneb aga alati oht, et tekivad mikropraod, läbi mille tekib vooluleke – liitiumi kristallid pääsevad sellest läbi ning toimub lühistumine.

«Kui telefon oleks aga normaaltemperatuuril või oleks hästi lahendatud selle jahutamine, siis kristalliidi kasvamine läbi membraani oleks olnud väga aeglane – selle kasvu kiirus on eksponent temperatuurist ja kui temperatuur läheb üles, hakkab kiirelt kasvama lühist tekitav kristalliit,» selgitas Enn Lust.

«See on kompleksne probleem. Ei saa öelda, et ainult patarei on süüdi või ainult selle paigutus telefonis. Küll aga tingivad mõlemad asjaolud koos selle, et patarei kuumeneb üle, toob kaasa aku lühistumise ja see omakorda telefoni süttimise,» lisas ta.

Lust tõdes, et akust ei ole võimalik kuidagi saada elektrilist laengut niimoodi, et soojust ei eralduks. Kompaktse disaini puhul ei õnnestu seda soojust aga telefonist mõistliku kiirusega välja juhtida.

«Esiteks toodi uut tüüpi patarei kiirustades turule, ilmselt ei tehtud piisavalt koormustest suurte vooludega laadimise ja tühjenemise tingimustes. Alati toimub võidujooks, kes saab tootega esimesena turule. Kõnealune liitium-õhk patarei on väga kõrge võimsuse- ja energiatihedusega element, mis eraldab ka eelkäijatega võrreldes palju enam soojust,» lisas ta.

Lust nentis, et äsja kohtus ta Hawaiil kolleegidega üle maailma ning Samsung oli seal ilmselgelt kasutatavaim sõimusõna.

Enn Lust on aastast 1997 füüsikalise keemia professor ja alates 2008 Tartu Ülikooli keemia instituudi direktor. 2010. aastal valiti Enn Lust Eesti Teaduste Akadeemia liikmeks energiatehnoloogia alal. Tema juhendamisel on kaitstud 17 doktori- ning üle 20 magistritöö. Ta on avaldanud üle 300 teaduspublikatsiooni, sh kaks monograafiat.

Samsung teatas sel nädalal, et lõpetab oma uusima tipptelefoni Galaxy Note 7 tootmise ning andis selle juba soetanud inimestele soovituse telefon kiirelt välja lülitada ja kompensatsiooni eest tagastada.  

Tagasi üles